日本ミルテック株式会社

個人情報保護方針 | サイトマップ

大小

  • 会社案内
  • 製品案内
  • 採用情報
  • お問い合わせ
  • ホーム

LEDパッケージ工程向け外観検査装置

再生

再生ボタンをクリックすると Windows Media Player の動画が立ち上がります。

装置概要

同装置は、LEDパッケージ製造工程における各種外観不良を、独自の光学技術(9段特殊照明とカメラ及び特殊センサー)を駆使して自動検出し、不良品へのレーザーマーキング又はパンチングを施し、良否選別を行う装置です。

LEDパッケージ工程向け外観検査装置工程概要図

製品ラインナップ

MV-9XP 2D Inspection Post Wire Bond装置
MV-9UP 2D/3D Inspection Post Encapsulation装置

検査項目

検査箇所 検出項目 備考
ケースボディ部 異物付着、キズ、カケ等 2D光学検査
検査分解能:5.9µm
PAD(Stitch)部 異物付着、キズ等 2D光学検査
検査分解能:5.9µm
LEDチップ搭載状態 チップの搭載ズレ、チップの有無等 2D光学検査
検査分解能:5.9µm
ワイヤーボンディング ワイヤー有無、曲り、ズレ等 2D光学検査
検査分解能:5.9µm
注入エポキシの高さ 注入エポキシの高さを測定し、必要なエポキシ注入状態の検査 特殊センサーによる3D検査
測定分解能:1µm

装置外観

MV-9UP装置外観

検査装置内部

  1. 製品(リードフレーム)をペルトコンベアで搬送し、検査部に投入する。

  2. 検査テーブルに製品を自動セットし、検査を開始する。

注入エポキシの3D検査

液体の高さを測定出来る特殊センサーを使用して、注入エポキシの高さを測定・エポキシの過不足を検出します。

注入エポキシの3D検査イメージ

3D不良検出サンプル画像

エポキシ注入オーバフロー検出

エポキシ注入オーバフロー検出画像

2D検出サンプル画像

ケースボディのキズ、異物付着検出

ケースボディのキズ、異物付着検出画像

チップ無検出

チップ無検出画像

チップ搭載不良(傾き)検出

チップ搭載不良(傾き)検出画像

none Wire Error検出

none Wire Error検出画像

Wire曲げ不良検出

Wire曲げ不良検出画像

Ballの位置ズレ検出

Ballの位置ズレ検出画像

不良カテゴリー表示

不良種別毎に色付け表示

不良カテゴリー表示画像
製品案内
  • AOI装置
  • 3D SPI装置
  • LEDパッケージ工程向け外観検査装置
  • コンフォーマルコーティング検査装置

採用情報

お問い合わせ

ホーム | 会社案内 | 製品案内 | 採用情報 | お問い合わせ | 個人情報保護方針 | サイトマップ

◆本 社   
〒136-0071 東京都江東区亀戸2丁目35−13 新永ビル 1階
TEL : 03-3523-2301 / FAX : 03-3523-2302
◆関西営業所 
〒532-0011 大阪府大阪市淀川区西中島5-7-11 第8新大阪ビル 101
TEL : 06-4862-5540
◆中部営業所 
〒451-0062 愛知県名古屋市西区花の木1-1-17 ライフステージ花の木1F
TEL : 052-938-3663

Copyright © MIRTEC JAPAN CO., LTD. All rights reserved.